/ 會議資訊 /
2026第二屆非破壞檢測技術國際研討會暨財團法人台灣非破壞檢測協會年會，訂於2026年10月15、16兩日，於國立中央大學大禮堂舉行。研討會歡迎非破壞檢測領域之專家、研究學者及從業人員與業主共襄盛舉，分享檢測技術、應用及開發的經驗。提供作為產官學研知識與技術的交流平台，邁向深耕台灣與卓越全球的目標。
/ 重要日期 /
9/6, 2026
論文投稿期限
9/6, 2026
早鳥報名期限
9/10, 2026
審查結果公布日期
9/15, 2026
定稿論文上傳期限
/ 委員會 /
大會主席
尹慶中 (國立陽明交通大學)
共同主席
王士豪 (國立成功大學)
諮詢委員會主席
江支弘 (朝陽科技大學)
諮詢委員會共同主席
Takamasa Ogata (APFNDT, JP)
諮詢委員會成員
Ilham Mukriz Zainal Abidin (MSNT, MY)
Sajeesh Kumar Babu (ICNDT, SG)
Krishnan Balasubramanian (ISNT, IN)
柴駿甫 (國家地震工程研究中心)
Tsuchin Philip Chu (Southern Illinois University, USA)
Ikuo Ihara (JSNDI, JP)
Kyung-Young Jhang (KSNT, KR)
Danny Keck (ASNT, USA)
鄭家齊 (朝陽科技大學)
馬劍清 (國立台灣大學)
王仲宇 (國立中央大學)
楊哲化 (國立台北科技大學)
Reza Zoughi (Iowa State University, USA)
Takahide Sakagami (Kobe University, JP)
組織委員會
李朱育、林柏廷、蘇詠舜
技術委員
王仲宇、王顥霖、江支弘、何昭 慶、吳政忠、李永春、李秉鴻、林宜清、林永強、邱進隆、孫嘉宏、柴駿甫、馬劍清、章明、許耿蒼、郭茂坤、陳文翔、陳永裕、陳清祺、彭朋畿、童建樺、黃育熙、楊哲化、楊旭光、廖駿偉、裴廣智、劉佩玲（依姓氏筆畫排序）
主辦單位
財團法人台灣非破壞檢測協會、國立中央大學
協辦單位
國立中央大學、國 立臺灣科技大學、國立成功大學智慧製造研究中心